《紐約時報》報道“漢芯”研製造假事件


2006-05-14
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《紐約時報》星期天對上海交大微電子學院陳進等人的“漢芯”系列芯片研製涉嫌造假和欺騙事件作了報道。下面是自由亞洲電臺記者楊家岱的採訪報道。

因在科研中涉嫌造假和欺騙被撤銷職務的原上海交大微電子學院院長陳進等人,謊稱他們所研製的“漢芯一號”,能夠實現指紋識別和MP3播放等演示功能,但是經調查,這款芯片不具備這個功能。爲了在新聞發佈會上達到所需要的宣傳效果,陳進等人採取調包計,用另外一款芯片進行演示,而這款芯片根本不是他們自己研製的。《紐約時報》說,這一造假事件,使中國和上海處於極端“尷尬”的境地,因爲“漢芯”系列一度被宣傳爲“重大科技突破”。

南京大學化工學院教授崔克清說,中國的學術造假現象實際上相當嚴重;他提醒各界在科技產品產業化的過程中增強識別能力:(錄音)

“漢芯”系列造假事件的主要當事人陳進曾獲美國德州大學博士學位,是所謂“海歸派”學者。華人旅美科協名譽會長謝家葉表示,少數海歸派學者好像有“浮躁”的毛病:(錄音)

謝家葉表示,中國科研界的造假現象,與落實科技興國策略過程中急功近利的心態不無關係:(錄音)

以上是自由亞洲電臺記者楊家岱的採訪報道。

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