《纽约时报》报道“汉芯”研制造假事件


2006-05-14
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《纽约时报》星期天对上海交大微电子学院陈进等人的“汉芯”系列芯片研制涉嫌造假和欺骗事件作了报道。下面是自由亚洲电台记者杨家岱的采访报道。

因在科研中涉嫌造假和欺骗被撤销职务的原上海交大微电子学院院长陈进等人,谎称他们所研制的“汉芯一号”,能够实现指纹识别和MP3播放等演示功能,但是经调查,这款芯片不具备这个功能。为了在新闻发布会上达到所需要的宣传效果,陈进等人采取调包计,用另外一款芯片进行演示,而这款芯片根本不是他们自己研制的。《纽约时报》说,这一造假事件,使中国和上海处于极端“尴尬”的境地,因为“汉芯”系列一度被宣传为“重大科技突破”。

南京大学化工学院教授崔克清说,中国的学术造假现象实际上相当严重;他提醒各界在科技产品产业化的过程中增强识别能力:(录音)

“汉芯”系列造假事件的主要当事人陈进曾获美国德州大学博士学位,是所谓“海归派”学者。华人旅美科协名誉会长谢家叶表示,少数海归派学者好像有“浮躁”的毛病:(录音)

谢家叶表示,中国科研界的造假现象,与落实科技兴国策略过程中急功近利的心态不无关系:(录音)

以上是自由亚洲电台记者杨家岱的采访报道。

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